

美國(guó)EdgeTech DewTrace冷鏡露點(diǎn)儀,憑借其良好的測(cè)量精度與寬動(dòng)態(tài)范圍,成為工業(yè)濕度控制領(lǐng)域的重要設(shè)備。采用基準(zhǔn)級(jí)冷鏡測(cè)量技術(shù),通過(guò)準(zhǔn)確控制金屬鏡面溫度,使其與被測(cè)氣體達(dá)到動(dòng)態(tài)熱平衡,當(dāng)鏡面溫度降至露點(diǎn)時(shí),光學(xué)傳感器立即捕捉凝露瞬間,反推出氣體*對(duì)濕度。這一物理直測(cè)原理,規(guī)避了化學(xué)傳感器易受氣體成分干擾的缺陷,尤其適用于含腐蝕性氣體或嚴(yán)苛低溫環(huán)境。美國(guó)EdgeTech冷鏡露點(diǎn)儀DewTrace高精度濕度測(cè)量行業(yè)信賴(lài)之選
DewTrace的主要優(yōu)勢(shì)在于其超寬測(cè)量范圍與高精度。X3LC液冷型傳感器可覆蓋-97℃至95℃的霜點(diǎn)范圍,標(biāo)準(zhǔn)精度達(dá)±0.2℃,可選±0.1℃高精度模式,滿(mǎn)足從環(huán)境濕度到痕量水分的全場(chǎng)景需求。在半導(dǎo)體制造中,其抗電磁干擾設(shè)計(jì)確保與光刻機(jī)等設(shè)備無(wú)縫協(xié)同;在液化天然氣運(yùn)輸領(lǐng)域,可監(jiān)測(cè)-162℃低溫下的微量水分,防止冰堵事故;在航天領(lǐng)域,其±0.1℃精度為火箭燃料艙濕度控制提供可靠保障,助力發(fā)射成功率大幅提升。美國(guó)EdgeTech冷鏡露點(diǎn)儀DewTrace高精度濕度測(cè)量行業(yè)信賴(lài)之選
DewTrace的智能化設(shè)計(jì)提升了操作效率。內(nèi)置傳感器加熱器可快速干燥鏡面,縮短低露點(diǎn)測(cè)量前的準(zhǔn)備時(shí)間;自動(dòng)平衡控制(ABC)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)校準(zhǔn),減少人工維護(hù)頻次;藍(lán)牙無(wú)線(xiàn)通信與數(shù)據(jù)記錄功能,支持歷史數(shù)據(jù)追溯。從實(shí)驗(yàn)室基準(zhǔn)測(cè)量到工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)實(shí)時(shí)監(jiān)控,DewTrace以良好精度與可靠性,重新定義了濕度測(cè)量的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),成為用戶(hù)信賴(lài)的濕度控制解決方案。美國(guó)EdgeTech冷鏡露點(diǎn)儀DewTrace高精度濕度測(cè)量行業(yè)信賴(lài)之選

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