美國(guó)Edgetech冷鏡露點(diǎn)儀DewTrak II無(wú)需校準(zhǔn)即可長(zhǎng)期穩(wěn)定

在濕度測(cè)量領(lǐng)域，美國(guó)Edgetech DewTrak II冷鏡露點(diǎn)儀，通過(guò)直接測(cè)量鏡面冷凝溫度實(shí)現(xiàn)露點(diǎn)值獲取，其主要優(yōu)勢(shì)在于無(wú)需定期校準(zhǔn)即可長(zhǎng)期保持穩(wěn)定性，這一特性在制藥、石化等對(duì)濕度控制要求嚴(yán)苛的行業(yè)中尤為重要。美國(guó)Edgetech冷鏡露點(diǎn)儀DewTrak II無(wú)需校準(zhǔn)即可長(zhǎng)期穩(wěn)定

DewTrak II采用兩級(jí)熱電冷卻（TEC）技術(shù)，通過(guò)半導(dǎo)體致冷元件精確控制鏡面溫度至±0.01℃。當(dāng)樣氣流經(jīng)鏡面時(shí)，系統(tǒng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)冷凝層形成狀態(tài)：鏡面溫度高于氣體露點(diǎn)時(shí)保持干燥，溫度降至露點(diǎn)時(shí)水蒸氣凝結(jié)形成露層。此時(shí)，光學(xué)檢測(cè)模塊通過(guò)光電二極管感知反射光強(qiáng)變化，觸發(fā)PID溫控算法動(dòng)態(tài)調(diào)整制冷功率，使鏡面溫度與氣體水蒸氣分壓達(dá)到動(dòng)態(tài)平衡。這種物理級(jí)測(cè)量直接反映氣體濕度本質(zhì)，避免了傳統(tǒng)傳感器因介質(zhì)吸濕、信號(hào)漂移等產(chǎn)生的誤差。美國(guó)Edgetech冷鏡露點(diǎn)儀DewTrak II無(wú)需校準(zhǔn)即可長(zhǎng)期穩(wěn)定

美國(guó)Edgetech冷鏡露點(diǎn)儀DewTrak II穩(wěn)定性源于三大技術(shù)突破：其一，雙級(jí)冷鏡傳感器采用高純度銀鍍層鏡面，表面粗糙度低于0.01μm，有效抑制污染物附著；其二，氣路系統(tǒng)采用316L不銹鋼與PTFE材質(zhì)，配合0.01μm核級(jí)過(guò)濾器，可攔截99.7%的固體顆粒；其三，內(nèi)置鏡面加熱除污系統(tǒng)可定時(shí)自動(dòng)清潔，結(jié)合抗粉塵干擾算法，即使鏡面附著微米級(jí)顆粒仍能通過(guò)信號(hào)修正保持測(cè)量精度。在某生物藥原液車間的180天連續(xù)運(yùn)行測(cè)試中，DewTrak II數(shù)據(jù)有效性達(dá)99.7%，遠(yuǎn)超行業(yè)平均水平。美國(guó)Edgetech冷鏡露點(diǎn)儀DewTrak II無(wú)需校準(zhǔn)即可長(zhǎng)期穩(wěn)定

在制藥領(lǐng)域，DewTrak II將無(wú)菌制劑區(qū)濕度波動(dòng)控制在±2%RH以內(nèi)，顆粒污染風(fēng)險(xiǎn)降低60%；在石化行業(yè)，其通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)原料氣露點(diǎn)溫度，使碳鋼管道年腐蝕速率從0.3mm降至0.05mm。這些案例證明，物理級(jí)測(cè)量結(jié)合抗污染設(shè)計(jì)，使DewTrak II在-40℃至65℃寬溫區(qū)內(nèi)實(shí)現(xiàn)±0.2℃露點(diǎn)精度，且長(zhǎng)期運(yùn)行無(wú)需校準(zhǔn)，重新定義了工業(yè)濕度控制標(biāo)準(zhǔn)。美國(guó)Edgetech冷鏡露點(diǎn)儀DewTrak II無(wú)需校準(zhǔn)即可長(zhǎng)期穩(wěn)定

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